鼎陽(yáng)科技（SIGLENT）宣布對(duì)其廣受歡迎的SNA系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）進(jìn)行重要功能升級(jí)。本次升級(jí)的核心在于新增了專業(yè)的材料測(cè)量功能與靈活的開關(guān)矩陣控制能力，旨在將單臺(tái)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀擴(kuò)展為一個(gè)強(qiáng)大、自動(dòng)化的多端口測(cè)試矩陣系統(tǒng)，顯著提升其在研發(fā)、生產(chǎn)及質(zhì)量控制等場(chǎng)景下的測(cè)試效率與靈活性。

一、 功能升級(jí)亮點(diǎn)：從單端口測(cè)試到系統(tǒng)級(jí)解決方案

傳統(tǒng)的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀主要專注于對(duì)單個(gè)器件或有限端口網(wǎng)絡(luò)的S參數(shù)進(jìn)行精確測(cè)量。本次升級(jí)后，鼎陽(yáng)SNA系列VNA實(shí)現(xiàn)了兩大突破：

1. 專業(yè)的材料測(cè)量功能：
新功能允許用戶直接利用VNA和相應(yīng)的測(cè)試夾具（如同軸探頭、諧振腔等），對(duì)材料的介電常數(shù)（εr）和磁導(dǎo)率（μr）等關(guān)鍵電磁參數(shù)進(jìn)行精確測(cè)量。這對(duì)于新材料研發(fā)（如5G通信材料、吸波材料、高性能PCB基材）、航空航天復(fù)合材料評(píng)估以及學(xué)術(shù)研究等領(lǐng)域具有極高價(jià)值。用戶無(wú)需依賴復(fù)雜的外部計(jì)算軟件或設(shè)備，即可在VNA的直觀界面上完成材料特性的一站式表征。

2. 強(qiáng)大的開關(guān)矩陣控制功能：
這是本次升級(jí)的“系統(tǒng)級(jí)”關(guān)鍵。通過(guò)集成對(duì)多路復(fù)用開關(guān)矩陣（如SPDT、SPnT、多路矩陣）的直接控制和編程能力，單臺(tái)SNA系列VNA現(xiàn)在可以輕松管理數(shù)十甚至上百個(gè)測(cè)試端口。用戶能夠：

• 自動(dòng)化測(cè)試序列：編寫測(cè)試程序，讓VNA自動(dòng)控制開關(guān)矩陣切換通道，依次對(duì)多個(gè)被測(cè)件（DUT）進(jìn)行測(cè)量，極大節(jié)省手動(dòng)連接和操作時(shí)間。

• 構(gòu)建多端口測(cè)試系統(tǒng)：輕松實(shí)現(xiàn)對(duì)于多天線系統(tǒng)、多路濾波器組、電纜組件等復(fù)雜多端口網(wǎng)絡(luò)的自動(dòng)化測(cè)試。

• 提高測(cè)試可靠性與一致性：避免頻繁的人工插拔，減少連接器磨損和人為誤差，保證長(zhǎng)期測(cè)試的重復(fù)性和一致性。

二、 構(gòu)建高效矩陣測(cè)試系統(tǒng)

將新增的開關(guān)矩陣控制功能與VNA本身的高性能相結(jié)合，用戶可以構(gòu)建一個(gè)經(jīng)濟(jì)高效且高度自動(dòng)化的測(cè)試矩陣系統(tǒng)。該系統(tǒng)尤其適用于：

• 生產(chǎn)線終檢（End-of-Line Testing）：快速、自動(dòng)地對(duì)批量生產(chǎn)的射頻元器件（如濾波器、放大器、天線）進(jìn)行性能篩查和分類。
• 多器件并行測(cè)試：在研發(fā)實(shí)驗(yàn)室中，需要對(duì)多個(gè)設(shè)計(jì)迭代版本進(jìn)行對(duì)比測(cè)試時(shí)，系統(tǒng)可大幅提升效率。
• 大型天線陣列測(cè)試：簡(jiǎn)化相控陣天線或多輸入多輸出（MIMO）天線系統(tǒng)中眾多單元的有源/無(wú)源參數(shù)測(cè)試流程。

三、 為現(xiàn)有用戶帶來(lái)顯著價(jià)值

對(duì)于已經(jīng)擁有鼎陽(yáng)SNA系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的用戶而言，此次升級(jí)通常可通過(guò)固件（Firmware）更新和配套的軟件選項(xiàng)來(lái)實(shí)現(xiàn)，保護(hù)了用戶的既有投資。這意味著用戶無(wú)需購(gòu)買昂貴的新設(shè)備，即可將現(xiàn)有的VNA能力邊界大幅擴(kuò)展，從單一的儀器升級(jí)為一個(gè)測(cè)試平臺(tái)的核心，投資回報(bào)率顯著提高。

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鼎陽(yáng)科技此次為SNA系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀新增材料測(cè)量與開關(guān)矩陣控制功能，標(biāo)志著其產(chǎn)品正從高性能的單機(jī)測(cè)量?jī)x器，向綜合性的智能測(cè)試解決方案邁進(jìn)。這不僅響應(yīng)了市場(chǎng)對(duì)更高測(cè)試效率和更復(fù)雜測(cè)試能力的需求，也體現(xiàn)了鼎陽(yáng)科技以用戶為中心、持續(xù)進(jìn)行技術(shù)創(chuàng)新和價(jià)值延伸的理念。這一升級(jí)將進(jìn)一步鞏固SNA系列在教育科研、工業(yè)制造、通信等領(lǐng)域的競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)，助力用戶應(yīng)對(duì)日益復(fù)雜的射頻測(cè)試挑戰(zhàn)。